Le “classique” pour de nombreuses applications à un prix avantageux

Le X-50 est équipé de la technologie de détection SiPiN (technologie de détection avant l’apparition des détecteurs de dérive au silicium, SDD). La technologie SiPiN traite des taux de comptage 10 à 20 fois inférieurs à ceux des détecteurs de dérive au silicium et a une résolution inférieure d’environ 70 eV (la séparation des pics est légèrement moins bonne). Cependant, la technologie SiPiN est tout à fait suffisante pour de nombreuses applications, comme le tri de l’acier inoxydable, des alliages à haute température et du cuivre, ou l’analyse des métaux lourds dans les sols, les minerais, les poudres, etc.

Le X-50 ne mesure toutefois pas le magnésium (Mg), l’aluminium (Al) ou le silicium (Si) dans les alliages. Pour certains matériaux, le X-50 peut mesurer le phosphore (P) et le soufre (S) au niveau de 1%. Les limites de détection sont environ trois fois plus élevées en comparaison avec les versions SDD du X. Le X-50 offre toutefois un prix particulièrement attractif et comprend le même tube à rayons X avancé que les autres modèles X (fonctionnement jusqu’à 50 kV maximum), une caméra intégrée, une caméra macro et la plateforme du système d’exploitation Android. Le X-50 est disponible pour les alliages, l’environnement, l’exploitation minière/l’exploration, les métaux précieux, les catalyseurs automobiles, les revêtements et une application empirique pour les applications industrielles et personnalisables. L’appareil peut être étalonné en usine à l’aide de la méthode FP (paramètres fondamentaux), de la normalisation Compton (méthode EPA 6200) ou d’étalonnages empiriques définis par l’utilisateur.