X-50 Analysator

Das X-50 verfügt über die SiPiN-Detektortechnologie (Detektortechnologie vor dem Aufkommen von Silizium-Drift-Detektoren, SDD). Die SiPiN-Technologie verarbeitet um den Faktor 10 – 20 x niedrigere Zählraten als die Silizium-Drift-Detektoren und hat eine um etwa 70 eV geringere Auflösung (Trennung der Peaks ist etwas schlechter). Für viele Anwendungen, wie z. B. die Sortierung von Edelstahl, Hochtemperatur- und Kupferlegierungen oder die Analyse von Schwermetallen in Böden, Erzen, Pulvern usw., ist die SiPiN-Technologie jedoch vollkommen ausreichend.

Das X-50 misst allerdings kein Magnesium (Mg), Aluminium (Al) oder Silicium (Si) in Legierungen. Bei einigen Materialien kann das X-50 Phosphor (P) und Schwefel (S) auf dem 1%-Niveau messen. Die Nachweisgrenzen sind im Vergleich zu SDD-Versionen des X etwa dreimal höher. Das X-50 bietet jedoch einen besonders attraktiven Preis und enthält die gleiche fortschrittliche Röntgenröhre wie die anderen X-Modelle (Betrieb bis max. 50 kV), eine integrierte Kamera, eine Makrokamera und die Android-Betriebssystemplattform. Das X-50 ist für Legierungen, Umwelt, Bergbau/Exploration, Edelmetalle, Autokatalysatoren, Beschichtungen und eine empirische App für industrielle und benutzerdefinierbare Anwendungen verfügbar. Das Gerät kann werkseitig mit der FP-Methode (Fundamental Parameter), Compton-Normalisierung (EPA-Methode 6200) oder benutzerdefinierten empirischen Kalibrierungen kalibriert werden.