Analyseur X-50

Le X-50 est doté de la technologie de détecteur SiPiN (technologie de détecteur antérieure à l’avènement des détecteurs à dérive de silicium, SDD). La technologie SiPiN traite des taux de comptage 10 à 20 fois inférieurs à ceux des détecteurs à dérive de silicium et a une résolution d’environ 70 eV inférieure (la séparation des pics est légèrement moins bonne). Pour de nombreuses applications, telles que le tri des aciers inoxydables, des alliages à haute température et de cuivre ou l’analyse des métaux lourds dans les sols, les minerais, les poudres, etc., la technologie SiPiN est toutefois parfaitement suffisante.

Le X-50 ne mesure toutefois pas le magnésium (Mg), l’aluminium (Al) ou le silicium (Si) dans les alliages. Pour certains matériaux, le X-50 peut mesurer le phosphore (P) et le soufre (S) au niveau de 1 %. Les limites de détection sont environ trois fois plus élevées que celles des versions SDD du X. Le X-50 offre toutefois un prix particulièrement attractif et contient le même tube à rayons X avancé que les autres modèles X (fonctionnement jusqu’à 50 kV max.), une caméra intégrée, une macro-caméra et la plateforme de système d’exploitation Android. Le X-50 est disponible pour les alliages, l’environnement, l’exploitation minière/l’exploration, les métaux précieux, les pots catalytiques automobiles, les revêtements et une application empirique pour les applications industrielles et personnalisables. L’appareil peut être calibré en usine avec la méthode FP (paramètres fondamentaux), la normalisation Compton (méthode EPA 6200) ou des calibrages empiriques personnalisés.