Analizzatore X-50

L’X-50 è dotato della tecnologia del rivelatore SiPiN (tecnologia del rivelatore precedente all’avvento dei rivelatori a deriva di silicio, SDD). La tecnologia SiPiN elabora tassi di conteggio inferiori di un fattore 10-20 rispetto ai rivelatori a deriva di silicio e ha una risoluzione inferiore di circa 70 eV (la separazione dei picchi è leggermente peggiore). Per molte applicazioni, come la selezione di acciaio inossidabile, leghe per alte temperature e leghe di rame o l’analisi di metalli pesanti in terreni, minerali, polveri, ecc., la tecnologia SiPiN è tuttavia perfettamente adeguata.

L’X-50, tuttavia, non misura magnesio (Mg), alluminio (Al) o silicio (Si) nelle leghe. In alcuni materiali, l’X-50 può misurare fosforo (P) e zolfo (S) a livello dell’1%. I limiti di rilevamento sono circa tre volte superiori rispetto alle versioni SDD dell’X. L’X-50 offre tuttavia un prezzo particolarmente interessante e contiene lo stesso tubo a raggi X avanzato degli altri modelli X (funzionamento fino a max. 50 kV), una fotocamera integrata, una macrocamera e la piattaforma del sistema operativo Android. L’X-50 è disponibile per leghe, ambiente, estrazione mineraria/esplorazione, metalli preziosi, convertitori catalitici per auto, rivestimenti e un’app empirica per applicazioni industriali e personalizzabili. Il dispositivo può essere calibrato in fabbrica con il metodo FP (parametri fondamentali), la normalizzazione Compton (metodo EPA 6200) o calibrazioni empiriche personalizzate.